問(wèn)題：進(jìn)行低溫環(huán)境試驗(yàn)的目的是什么?

　　回答：

　　進(jìn)行低溫試驗(yàn)的目的是為了確定電子產(chǎn)品在低溫條件下儲(chǔ)存或使用時(shí)對(duì)環(huán)境的適應(yīng)性。所謂低溫條件下的適應(yīng)性,是指產(chǎn)品在恒定的低溫條件下儲(chǔ)存或使用時(shí),能保持完好、不受損壞并能正常工作的能力。